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MCU硬件在环(HiL)仿真测试系统-意昂神州
作者:admin 发表时间:2024-02-10 [浏览量:2]
摘要:电机控制器开发涉及高电压、大电流,直接进行电机台架试验有较大风险,对算法成熟度要求较高,意昂神州提供的电机HiL硬件在环仿真测试的目的是以最低的成本执行比较困难的测试和使用物理原型风险太大的测试。 控制器故障注入及分析在电机控制器设计前期阶段

  电机控制器开发涉及高电压、大电流,直接进行电机台架试验有较大风险,对算法成熟度要求较高,意昂神州提供的电机HiL硬件在环仿真测试的目的是以最低的成本执行比较困难的测试和使用物理原型风险太大的测试。

  控制器故障注入及分析在电机控制器设计前期阶段即可发现问题,而无需等到在物理原型上才发现

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